The use of solid-state back-scattered electron (BSE) deter tors in the scanning electron microscopic study of skeleta tissues has been investigated. To minimize the topographic element in the image, flat samples and a ring detector con figuration with the sample at normal incidence to the bean and the detector are used. Very flat samples are prepared by diamond micromilling or diamond polishing plastic embedded tissue. Density discrimination in the image is so good that different density phases within mineralized bone can be imaged. For unembedded spongy bone, cut surface:​ can be discriminated from natural surfaces by atopographii contrast mechanism. BSE imaging also presents advan tages for unembedded samples with rough topography such as anorganic preparations of the mineralization zone it cartilage, which give rise to severe charging problems witl conventional secondary electron imaging.

L'utilisation de back-scattered electrons (BSE) dans ('etude en microscopie électronique a balayage des tissue squelettiques a été explorée. Pour réduire au maximum Ie facteur topographique dans ('image, des échantillons plats et un détecteur annuiaire avec rayonnement perpendiculaire e l'échantillon et au détecteur ont été utilises. Des échantillons tree plats ont été prepares par mk:​romeulage diamante ou polissage au diament du tissu inclus en matiére plastique. Le pouvoir de discrimination des densités au sein de ('image est all bon qua lee différents niveaux de densIlté de l'os mineralise sont visibles sur l'image. Pour I'os spongleux non inclus, les surfaces de coupe peuvent titre differenciees des surfaces naturelles par un mécanisme de contraste topographique. La technique de BSE presente aussi des avantages pour des échantillons non inclus de topographie mal déterminee, comme [as preparations anorganiques de la zone de mineralisation du cartilage qui donne lieu a de serieux problemes de charge sur lee images de microscopie électronique á balayage conventionnelle.